爱德万测试发表新测试卡 本月上市
半导体测试设备领导供应商爱德万测试 (Advantest Corporation) 今日在日本半导体展中隆重发表V93000 EXA Scale平台板卡Wave Scale RF20ex，顾客只需使用单一板卡，便可测试几乎任何射频 (RF) 装置。
爱德万Wave Scale RF20ex延续V93000 Wave Scale RF解决方案创新实力并更上层楼，不仅每张板卡RF埠数量翻倍，且提供100MHz至20GHz范围，与领先业界的2GHz频宽能力，为未来的频率及频宽需求做好准备，足以因应5G、Wi-Fi 7、超宽频（UWB）、以及当今或未来任何RF标准。
随著半导体发展持续朝高效能、技术融合以及高复杂度演进，势必需要更全面、整合度更高的测试解决方案。最新Wave Scale RF20ex为所有标准RF应用提供一体适用的单卡解决方案。在UWB应用方面，V93000平台采用Wave Scale RF20ex，使自动测试设备（ATE）能因应在调变频宽和频率范围等测试需求上更严格要求的新一类元件，提升多工同测层次、降低测试成本（CoT）。
爱德万测试V93000产品部门执行官暨部门总经理Ralf Stoffels表示：「我们研发Wave Scale RF20ex的初衷，是为RF ATE提供最顶尖的元件、实现最佳操作效率。这款单卡提升了诸多应用的效能，同时简化配置以涵盖整体RF市场，并具备内建功能可因应未来Wi-Fi 8及6G元件世代。」
爱德万测试表示，Wave Scale RF20ex卡，具备多项特色与优点，包括：每卡64个双向埠、全埠100MHz至20GHz涵盖范围、2GHz瞬间频宽用于产生测试激源与量测。最新Wave Scale RF20ex卡已获许多顾客采用，并将于2024年12月全面启售。
